美国Bowman镀层测厚仪标准片凭借质量高，价格实惠。搭配博曼XRF镀层测厚仪，可校准任何X射线荧光（XRF）涂层厚度和成分分析系统。

又称标准箔，膜厚片，通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，国产天瑞，纳优等)。

 1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等，其它镀层可定制.

2.镀层标准片：双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.

3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.测量厚度范围：0.01~300μm.

美国博曼镀层测厚仪精度高，价格优惠。

? 美国博曼标准片均通过NIST、A2LA校正认证。

? 可为您提供金、银、铜、锡、锌、镍、锰、铬、钯等元素的标准片。

? 根据您的特殊需求，可为您定制满足您需要的标准片。

? 同时为您提供标准片再认证服务，并出具NIST或ANSI认证