仪器型号:  FESEM SU 8220

仪器厂家：日本Hitachi公司

仪器简介：

场发射扫描电镜

X-FEG 30kV 电子枪

加速电压：0.1-30KV

分辨率：0.8nm(加速电压15KV)

              1.1nm(着陆电压1KV，减速模式)

放大倍数：20~2000倍(低倍模式)，100~800000倍(高倍模式)

能谱仪：斜插式和平插式能谱仪EDAX SDD电制冷能谱探头（能量分辨率优于129eV）  

功能范围:

FESEM SU8220显微镜是一款的高分辨率扫描电子显微镜，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。目前SU8200系列已成为全球各地杰出研究人员的扫描电子显微镜(SEM)，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、陶瓷氧化物、矿物、半导体、食品、农作物和化工产品等材料领域。既可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在微米、纳米级样品的表面特征，也可以进行化学成分像分布，微区化学成分分析显微组织的研究。高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。

材料科学应用包括：

·材料的高分辨形貌分析

·显微组织及超微尺寸材料的研究

·化学成分像分布，微区化学成分分析

·具有相分析、自动颗粒物分析以及形态学分析功能

·配备真空转移装置，可在不接触空气的环境中更换样品