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高压加速老化试验箱即HAST试验处,该设备广泛应用于半导体、显示面板、PCB、电子元器件等多个领域的环境可靠性测试。EHS系列提供了高可用性和多种性,以满足 IEC60068-2-66标准和其他标准,具有方便的功能和可用于偏压测试的安全特性。
控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式。
内胆采用圆弧设计防止结露滴水,符合国家安全容器规范。各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护。
防止试验结束后试样受到急剧压力、温度或水分蒸发的环境影响。
试验开始时系统自动一次加足试验所需用水,水箱剩余水量可从正面简单确认。