在电子产品制造过程中，需对产品相关部位间隙与断差进行检测，以确保产品符合设计需求。

光谱共焦位移传感器能够高效率地获取电子产品表面3D形貌数据，通过2D截面分析工具可对任意位置的间隙与断差进行分析，以评估其是否合乎生产规范。

间隙及断差检测

PCB板翘曲度测量

PCB板插针高度

PCB板的插针大小不一,极其细小的插针影响到PCB板正常工作。

光谱共焦测量系统可通过高达2000Hz的采样频率对插针进行扫描，同时输出3D形貌数据和2D截面数据,供高度分析和共面度分析。

光谱共焦测量系统可应用于MEMS三维形貌测量，获取其内部微机电系统的3D数据，辅助出厂检测和工艺改进。

手机等消费电子显示屏与玻璃涂胶不均匀可能导致屏幕翘曲，严重影响用户体验。

光谱共焦轮廓传感器可对显示屏涂胶进行3D测量，实时检验涂胶厚度和涂胶分布情况。

光谱共焦测量系统适用于高反射性和镜面反射样品表面粗糙度测量，并可根据ISO 13565标准导出规范的粗糙度测量报告。

表面粗糙度测量