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商品详情
德国e+h雷达物位计
WBFLEX60系列雷达物位计用于对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量，适用于温度、压力变化大；有惰性气体及蒸发存在的场合。采用微波脉冲的测量方法，并可在工业频率波段范围内正常工作。波束能量较低，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对人体及环境均无伤害。
雷达物位计特性
无盲区
高精度
两线制技术
不受压力，真空或温度影响
安装简便，牢固耐用，免维护
标定简便
测量影响快
适用于真空及高温工况
发射能量很低的极短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件背转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极 短时间内稳定和精确的测量。
输入 天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比： D=C×T/2 其中C为光速
因空罐的距离E已知，则物位L为：
L=E-D
100%*德国E+H&&德国E+H深圳banshichu
雷达物位计 测量条件
注意事项
测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。若介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C 的位置。理论上测量达到天线*的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的*至少50mm。对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。zui小测量范围与天线有关。
雷达物位计 参数
工作频率： 10.3G/26G
测量范围：0…70mm（标准）
重复性 ：＋/－3mm
分辨率 ：1mm
采样 ：回波采样54次/s
响应速度：>0.3s（根据具体使用情况而定）
电流信号：4…20mA
精度 ：<0.1%或10mm（0~20m） 20mm（大于20m）
通讯接口 HART通讯协议
WBFLEX60系列雷达物位计用于对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量，适用于温度、压力变化大；有惰性气体及蒸发存在的场合。采用微波脉冲的测量方法，并可在工业频率波段范围内正常工作。波束能量较低，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对人体及环境均无伤害。
雷达物位计特性
无盲区
高精度
两线制技术
不受压力，真空或温度影响
安装简便，牢固耐用，免维护
标定简便
测量影响快
适用于真空及高温工况
发射能量很低的极短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件背转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极 短时间内稳定和精确的测量。
输入 天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比： D=C×T/2 其中C为光速
因空罐的距离E已知，则物位L为：
L=E-D
100%*德国E+H&&德国E+H深圳banshichu
雷达物位计 测量条件
注意事项
测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。若介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C 的位置。理论上测量达到天线*的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的*至少50mm。对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。zui小测量范围与天线有关。
雷达物位计 参数
工作频率： 10.3G/26G
测量范围：0…70mm（标准）
重复性 ：＋/－3mm
分辨率 ：1mm
采样 ：回波采样54次/s
响应速度：>0.3s（根据具体使用情况而定）
电流信号：4…20mA
精度 ：<0.1%或10mm（0~20m） 20mm（大于20m）
通讯接口 HART通讯协议
随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。
https://www.chem17.com/st247818/product_11215906.html
http://www.ensdress.com/SonList-886527.html
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