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商品详情
产品描述：
美国博曼（Bowman）BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
美国博曼（Bowman）镀层测厚仪即使在客户遇到严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。
智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。
性能与可操作性的优化
● 紧凑式设计，改善效率和精度
● 高分辨半导体固态探测器（Si-PIN），提高稳定性和灵敏度
● 更短的预热时间，更长寿命的光管
● 多种规格一次滤波器和准直器
● 可变焦距适应复杂样品的测量需求
● 模块化设计，方便维修、维护
简单的设计、强大的分析能力
● 快速、无损的分析
● 成份分析多可达25种元素
● 同时可多分析5层
● 基于基本参数法的镀层和成份分析方法
● 仅需一根USB线与电脑连接
● 快捷的面板控制按钮
● 占用空间小、轻量化设计
直观的用户界面
● 大的分析灵活性，减少用户出错机会
● 基于Net framework框架的Xralizer软件
● 直观的图标引导用户界面
● 强大的定性、无标样分析功能
● 功能强大的标准片库
● 用于快速分析的可定制快捷键
● 灵活的数据显示与导出
● 强大的报告编辑生成器
美国博曼（Bowman）BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
美国博曼（Bowman）镀层测厚仪即使在客户遇到严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。
智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。
性能与可操作性的优化
● 紧凑式设计，改善效率和精度
● 高分辨半导体固态探测器（Si-PIN），提高稳定性和灵敏度
● 更短的预热时间，更长寿命的光管
● 多种规格一次滤波器和准直器
● 可变焦距适应复杂样品的测量需求
● 模块化设计，方便维修、维护
简单的设计、强大的分析能力
● 快速、无损的分析
● 成份分析多可达25种元素
● 同时可多分析5层
● 基于基本参数法的镀层和成份分析方法
● 仅需一根USB线与电脑连接
● 快捷的面板控制按钮
● 占用空间小、轻量化设计
直观的用户界面
● 大的分析灵活性，减少用户出错机会
● 基于Net framework框架的Xralizer软件
● 直观的图标引导用户界面
● 强大的定性、无标样分析功能
● 功能强大的标准片库
● 用于快速分析的可定制快捷键
● 灵活的数据显示与导出
● 强大的报告编辑生成器
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