无损膜厚仪、无损镀层测厚仪、X射线镀层测厚仪、荧光膜厚仪
德国菲希尔Fischer X-RAY XDL X射线无损荧光镀层厚度测试仪

一、仪器介绍

     频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱"(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离，见背面)图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2〞) 

典型的应用范围如下： 

单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 

二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 

三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。

双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 

双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 

最多24种镀层（使用WinFTM® V.6软件）。 

分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。

分析电镀溶液中的金属离子浓度。

测量模式用于： 

单、双及三层镀层系统 

双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 

双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量) 

能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。

对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。

三、技术参数：

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法； 

2.原始射线从上至下； 

3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV； 

4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm;或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。 

5.测量箱外部尺寸：(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞)，重量大约为105kg(120lbs)； 

6.带槽箱体的内部尺寸：(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门； 

7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。 

联系人：黄先生 13599900411   QQ交流群：38244438