台式光纤插损回损测试仪、光纤回波损耗测试仪、回损仪

产品描述：

ADIR160系列插损回损测试仪是自主研发的高精度的宽量程的插回损测试一体化设备。

ADIR160系列插损回损测试仪采用独有的2级光放大技术和采样技术是业界领先的光测试测量产品。

ADIR160系列插损回损测试仪已经广泛的应用在光纤跳线、适配器、衰减器等光器件生产和研发以及各类型光电实验室教学中。

产品特性：

内置1310和1550 nm激光器；

内置高精度低功率回损测试架构，探测范围达80dB；

液晶屏刷新率动态可调，数码字体显示；

内置光功率计，同步波长切换；

可设置1310、1550nm 间隔自动切换测试（无需手动按键切换）

小信号测量（1nW输入），不准确度可达0.1dB；

串口R232控制，提供串口指令，并可自动存储数据；

可锁定并显示最大最小值；

可单、双屏幕显示切换，同时或者单独显示插损和回损结果；

FC, SC ,光纤夹万能连接头,通用光纤夹可选配；

规格参数：

产品配置：

主机、光盘、电源线、标准测试跳线