简介：
高低温老化冲击箱根据待测试样的特殊性，分为两箱式动态冲击和三箱式静态冲击，CJ/2系列既可作冷热冲击试验，也可以做单独高温或单独低温使用。广泛使用于航空航天、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等，同时可通过此试验，进行产品的质量控制。
满足标准及试验方法
GB11158-2008高温试验箱技术条件
GB10589-2008低温试验箱技术条件
GB10592-2008高低温试验箱技术条件（温度交变）
GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N:温度变化(IEC60068-2-14)
GJB150.5-1986温度冲击试验
其他
使用环境温度：+5~+35℃(降温环境温度+5~+28℃最佳)
安全：短路保护、超温保护、压缩机超压保护、压缩机过载保护、风机过载保护、漏电保护、相序缺相保护、操作人员安全保护、试件保护
高低温老化冲击箱附件标准配置
照明灯：飞利浦1

高档脚轮：4

更多高低温老化冲击箱可访问

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