光谱共焦位移传感器 CDS-200 OP3-Fc厚度测量
光谱共焦位移传感器 CDS-200 OP3-Fc厚度测量
产品价格:¥0(人民币)
  • 规格:CDS-200 OP3-Fc
  • 发货地:shanghai
  • 品牌:
  • 最小起订量:1套
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    商品详情
      光谱共焦位移传感器 CDS-200 OP3-Fc型号技术参数

      型号 CDS-200
      测头 OP3-Fc
      量程(mm) 1.3
      工作距离(mm) 12
      光斑直径(μm) 12
      分辨率(nm) 20
      线性度 ±0.025%F.S.
      (F.S.=1300μm)
      最小可测量厚度(μm) 40
      最大可测量厚度(μm) 2000
      测量模式 距离和厚度
      采样速度 100 Hz to 1000Hz
      数字输出 USB 2.0 and RS232 (up to 460800 baud)
      数字分辨率 距离模式: 30 bits
      厚度模式:15 bits
      同步 输入和输出0V - 5V TTL同步信号
      丰富的触发功能
      功能 “双频率”模式
      “LED自动调节”模式
      “抓第一峰”模式
      “保持最后值”模式
      “厚度校正”
      电源/功耗 100V to 240 V AC 50-60 Hz / 25W

      光谱共焦位移传感器 CDS-200 OP3-Fc应用
      微 位移、微形变高精度测量
      超高线性度,可以作为传感器的标定使用
      通过长度测量可以测量计算难以获取的微小应变
      纯光学测头,不会受到强磁干扰,无温度散发,可以在真空中使用

      在线检测
      高测量速度和开放的接口,可以应用于生产线相关的检测或控制系统
      色散原理具有超高的耐表面性,高光洁表面也可以稳定检测
      侧视测量,可以测量最小直径7mm的微孔侧壁形貌

      测振计
      高速的测量频率和纳米级的分辨率,可以应用在物体的振动测量

      厚度测量
      独创的色散共焦成像原理可以测量透明材料的厚度,具有极高的精确度

      液位控制
      非接触式测量,可以对液位进行检测和测量

      表面形貌扫描
      符合新的ISO25178规定,最高能够测量几纳米以下表面粗糙度
      非接触式粗糙度测量,对表面没有任何影响
      连接三维扫描设备,能够实现复杂表面的亚微米级精度的2D和3D测量


      光谱共焦位移传感器CDS-200 OP3-Fc 具有超强测量能力,可稳定测量任何材质(如,镜面、玻璃、不锈钢白色陶瓷、基板等材质)。

      传统三角测距法对于反光较强的表面测量精度较差,光谱共焦位移传感器无论什么表面都可以在1μm精度内稳定测量。即使同时存在多种材质,使用同一安装方式也可以稳定测量。不用针对每一种材质进行重新安装或者调节,对于多种材质存在的被测物,也可用一个传感器,一种安装方式测量。

      如有相关应用需要,请来电或留言跟我们联系,我们将给您提供专业的技术支持!

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