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商品详情
平行平晶-平晶【高精度50-75mm】一级平行平晶/价格/说明书
平行平晶50-75
产品名称：平行平晶
产品型号：0-25mm；25-50mm；50-75mm；75-100mm(每组四块)
简介
具有两个（或一个）光学测量平面的正圆柱形或长方形的量规。光学测量平面是表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面，它能够产生光波干涉条纹（见激光测长技术）。平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的，用于测量两高光洁表面的平行度误差，例如千分尺两测量面的平行度误差.平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。圆柱形平面平晶的直径通常为 45～150毫米。其光学测量平面的平面度误差为:1级精度的为0.03～0.05微米；2级精度的为0.1微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。
平行平晶：是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差。平行平晶据有高精度的平面性和平行性。
平行平晶：用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。
具体规格：
每组平行平晶共四块，分四个尺寸系列组
测量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
测量面平行度误差： 组Ⅰ系列允差值：0.06μm
组Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
组Ⅳ系列允差值：0.1μm
测量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
测量面平行度误差： 组Ⅰ系列允差值：0.06μm
组Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
组Ⅳ系列允差值：0.1μm
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组Ⅰ
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平行平晶
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0-25mm
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4块/组
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组Ⅱ
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平行平晶
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25-50mm
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4块/组
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组Ⅲ
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平行平晶
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50-75mm
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4块/组
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组Ⅳ
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平行平晶
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75-100mm
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4块/组
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