光谱共焦传感器_透明体厚度测量_厚度测量
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    商品详情

      光谱共焦位移传感器具有超强的角度特性,最大可测倾角87°,由于其同轴共焦原理,所以无像差干扰问题,即使被测物有过大倾角也不会影响测量精度。
      镜面、透明、半透明体表面也可以有超强的角度特性,使用光谱共焦位移传感器,无需严格的角度调整就可以进行高精度测量。即使被测物在运动过程中的跳动也不会对测量造成过大的影响。


      光谱共焦位移传感器可高精度测量透明体厚度,并可同时测量不同层面位置值。透明体上下表面均会有一个焦点存在,获取上表面和下表面位置值,上下表面的位置差即是透明体的厚度值。
       
      透明体的平整度和厚度可以同时测量。以往玻璃、薄膜行业测量厚度都是用卡尺人工抽样检测,如果是较大的基板就无法任意检测各个位置,并且用卡尺测受人为影响非常严重。非接触式光学测量,可以在线测量大尺寸玻璃或薄膜的厚度和平整度。


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