日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪
日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪
产品价格:¥188(人民币)
  • 规格:ENI1220
  • 发货地:陕西西安
  • 品牌:
  • 最小起订量:1台
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    商品详情

      ENI1220 IPM 测试系统

      日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪 

       

       

      系统概述

       

      基础配置

       

      IPM,即智能功率模块,是先进的混合集成功率器件。一般使用IGBT作为功率开关元件,内部集成电流传感器及驱动电路的集成结构。

      IPM模块需要测试的特性参数很多,其中最关键的测试参数为开关特性(时间特性)的测量。该系统在解决IPM的控制信号以及高速数据采集处理两个关键技术的条件下,是一套基于DSP及FPGA的高速实时测试系统。

       

      电压

      电流

       

       

      标配

      选配

      标配

      选配

       

       

      1200V

      1000V

      200A

      200A

       

       

      2200V

      400A

       

       

      3300V

      600A

       

       

      4500V

      1000A

       

       

      6000V

      2000A

       

      配置/短路测试

       

      电压

      电流

      短路测试

       

      标配

      选配

      标配

      选配

      项目

      范围

      误差

      分辨率

       

      1200V

      2200V

      200A

      400A

      VPN

      100V~1200V

      ±3%

      10V

       

      3300V

      600A

      测试电流

      10A~75A

      ±3%

      1A

       

      4500V

      1000A

      短路电流

      100A~500A

      ±3%

      1A

       

      6000V

      2000A

      短路时间

      1 uS~10uS

      可调

      可调

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

      测试功能

       

      测试范围

      测试参数

       

      IPM

      BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID,

      UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF),

      ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN,

      OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS

       

      IGBT

      ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT)

       

      DIODE

      VF-Temp, Temp, VF revision

       

       

       

       

      参数 / 精度

       

      静态参数

       

      动态参数

       

      上桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-H)

      集电极电压Vce:

      100~1200V,

      误差±3%,分辨率10V

       

      上桥IGBT/FRD耐压测试(Bvce-H)

       

      上桥驱动IC低端静态电流测试(IDH)

      集电极电流Ice:

      10~75A,

      误差±3%,分辨率1A

       

      上桥驱动IC高端静态工作电流测试

      (Iqbs-U,V,W)

       

      VD=VBS=15V,           

      误差±3%,分辨率0.1V

       

      上桥欠压保护监测电平 (UVbsd-U V W)

      VIN=0~5V             

      误差±3%,分辨率0.1V   

      上桥欠压保护复位电平(UVbsr-U V W)

      ton-L : 10~500nS,    

      误差±3%,分辨率1nS

       

      上桥驱动IC导通阈值电压测试

      (Vth(on)-UH VH WH)

      tc(on)-L :5~200nS,

      误差±3%,分辨率1nS    

       

      toff-L: 50~500nS,   

      误差±3%,分辨率1nS

       

      上桥驱动IC关断阈值电压测试

      (Vth(off)-UH VH WH)

      tc(off)-L: 5~200nS,

      误差±3%,分辨率1nS     

       

      Trr-L :10~500nS,    

      误差±3%,分辨率1nS

       

      上桥IGBT饱和电压测试(Vce(sat)-UH VH WH)

      Eon-L :0.1~10mJ,   

      误差±3%,分辨率0.1mJ  

       

      上桥FRD正向压降测试(VF-(UH VH WH)

      Eoff-L: 0.1~10mJ  

      误差±3%,分辨率0.1mJ

       

      下桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-L)

      集电极电压Vce:

      100~1200V,

      误差±3%,分辨率10V

       

      下桥驱动IC静态工作电流测试(IDL)

       

      故障输出电压测试(Vfoh Vfol)

      集电极电流Ice:

      10~75A,

      误差±3%,分辨率1A

       

      过流保护阈值电压测试(Vcin(ref))

       

      下桥欠压保护监测电平(UVdd)

      VD=VBS=15V,           

      误差±3%,分辨率0.1V

       

      下桥欠压保护复位电平(UVdr)

      VIN=0~5V             

      误差±3%,分辨率0.1V   

       

      下桥驱动IC导通阈值电压

      (Vth(on)-UL VL WL)

      ton-L : 10~500nS,    

      误差±3%,分辨率1nS

       

      tc(on)-L :5~200nS,

      误差±3%,分辨率1nS    

       

      下桥驱动IC关断阈值电压

      (Vth(off)-UL VL WL)

      toff-L: 50~500nS,   

      误差±3%,分辨率1nS

       

      tc(off)-L: 5~200nS,

      误差±3%,分辨率1nS     

       

      下桥IGBT饱和电压测试(Vce(sat)-UL VL WL)

      Trr-L :10~500nS,    

      误差±3%,分辨率1nS

       

      下桥FRD正向压降测试(VF-(UL VL WL)

      Eon-L :0.1~10mJ,   

      误差±3%,分辨率0.1mJ  

       

       

       

      Eoff-L: 0.1~10mJ  

      误差±3%,分辨率0.1mJ

    0571-87774297