仪器简介: 在工业及科研领域,经常需要对样品进行非破坏性的元素分析,同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,贵金属检测等。
黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度,非破坏性而且测量点小。
德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO?MIDEX X?射线荧光能谱仪正是满足了这一要求,可最迅速、准确地提供分析数据。
根据市场要求,德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化,使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。
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SPECTRO?MIDEX?采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统,集准直、聚焦、样品激发于一体,是功能强大的金属分析仪SPECTRO?MIDEX 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。
样品室配有易于调节的样品台。
通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。
仪器配有计算机和专业化的软件,使操作极为简便。
测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。
在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。
SPECTRO?MIDEX 也可满足快速分析的需要,在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。
SPECTRO?MIDEX?不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构,海关商检、造币工业等,还可完成其它分析任务如:非破坏性检查,贵金属分选,电子线路及电气元件的分析等。
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技术参数: 激发?
- Mo 靶X光管?
最大功率:30W,最大电压:48kV?
- 测量点尺寸?
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm?
样品室?
- 可显示样品的摄像系统(可调焦)?
- 手动调节样品台,样品定位简便?
- 马达驱动精确移动的XYZ样品台,?
最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高),?
最大样品重量:3kg/6.6 lbs?
计算机?
- 外置式计算机系统,Windows?
操作系统,?
- 键盘,鼠标,显示器,打印机?
- 菜单式软件,光谱仪参数调整和?
数据评估及计算,元素成分及分布显示?
检测器?
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:?
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2?
- 以Mn Kα线,在测量计数率为?
10,000脉冲计数时, 能量分辨率:FWHM<160 eV?
- 微处理器控制的检测器和读出电路?
- 脉冲计数率可达250,000 cps?
光谱仪数据?
- 电压:95-120V/200-240V,50/60 Hz,?
- 光谱仪能耗:200W?
- 仪器尺寸 宽x 深 x 高,单位mm?
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”?
- 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”?
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置?
分析?
- 用于合金元素分析的基本参数程序FP +?
- 塑料及复合材料的RoHS指令检测?
环境条件?
- 周围环境温度:5-30°C (41-85°F)?
在20-25°C (68-77°F)下,可达到标定仪器性能?
- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %,无冷凝,无蒸气腐蚀,防尘
主要特点: SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品,不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定,还可对超大样品的表面(面积可达EC标准线路板规格的2倍, 233x160 mm)进行元素分布分析。
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