1.产品概述

TD8160是一套测量薄片（带）状软磁材料磁特性的智能化系统，由精密励磁及测量装置、单片磁导计、全自动测量软件组成；特别适用于在工频范围内测量单片非晶、纳米晶材料的磁性能，亦可测量无取向/取向硅钢的单片磁性能。使用该系统可在能耗、效率、材料均匀性/一致性、可靠性、整个生命周期的成本等方面全面优化您的产品。

2.功能特点

2.1严格的溯源与量传技术：系统内置一套专用的校准程序，用户可选配专用的校准模块和转接头，通过更高等级的电压表、电流表、功率表对系统进行校准，所有磁参量直接溯源至电学基本量以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。标准样品仅用于测量数据比对，不得用于对本仪器进行校准。

2.2系统可准确测量电压、电流、功率、频率、相位、功率因数、谐波等电参量。

2.2可自动计算B、H、比总损耗、比总视在损耗、矫顽力、剩磁、磁导率、波形因数、波峰因子等参数；并绘制磁化曲线、磁滞回线等；可切换多种磁测量单位。

2.3实时显示电压/电流波形以监控整个测试过程，并能随时中断。

2.4单片磁导计采用双磁轭结构，样品可实现磁轭退磁和样品退磁。

2.5多尺寸规格的单片磁导计可选，以适应不同样品的测试并实现用户投资价值大化。

2.6磁场测量兼容国际主流的单片样磁场检测方法：M.C法和H-Coil法

2.7系统所有量值均溯源到电学基本量，用户可用高准确度的电学仪表对其进行校准。

2.8配备的计算机软件实现全自动测量，且样品数据库和测量数据管理十分方便。

2.9装置配高清液晶彩屏，测量结果、曲线可直观显示，且采用便捷的触摸操作方式。

TD8160单片非晶磁性测量系统原理框图

3.主要应用

3.1单片非晶/纳米晶磁性测量

3.2单片无取向硅钢/取向硅钢磁性能测量

3.3其他薄片（带）状软磁材料测量

4.非晶测量特性

4.1样品主要为铁基非晶带材，其有较明显的磁致伸缩效应，宜采用单片样进行检测。

4.2铁基非晶带材与取向硅钢带材相比，有二方面特点：

其厚度很薄，一般为0.025 mm，只有取向硅钢带材的1/10左右。

比总损耗低，50Hz下1.5T的典型值约为0.08 W/kg，是取向硅钢50Hz下1.7T典型值的1/10左右。

4.3由铁基非晶带材的特点可见，其单片检测的技术要求和实现难度都很高。

4.4铁基非晶带材与普通取向普通硅钢带材相比，对磁测设备的灵敏度要求高近100倍；考虑到铁基非晶带材试样较小，其磁性能检测设备的灵敏度要求更高。

4.5在磁导计的制作、微弱信号处理及干扰抑制、量值溯源等方面也有很高的要求。