BW-3010B  晶体管光耦参数测试仪(双功能版)
BW-3010B 晶体管光耦参数测试仪(双功能版)
产品价格:¥15000(人民币)
  • 规格:BW-3010B
  • 发货地:陕西西安
  • 品牌:
  • 最小起订量:1台
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    会员级别:试用会员
    认证类型:企业认证
    企业证件:通过认证

    商铺名称:陕西博微电通科技有限责任公司

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    商品详情

      BW-3010B

      晶体管光耦参数测试仪(双功能版)

      BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。 ,BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降(VF)和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中,测试条件可以任意设置,测试正向压降和输出电流可达1A,操作简便,实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。

      产品电气参数:

      产品信息

      产品型号:BW-3022A

      产品名称:晶体管光耦参数测试仪;

      物理规格

      主机尺寸:深 305*宽 280*高 120(mm)

      主机重量:<4.5Kg

      主机颜色:白色系

      电气环境

      主机功耗:<75W

      环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);

      相对湿度:≯85%;

      大气压力:86Kpa~106Kpa;

      防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;

      电网要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

      工作时间:连续;


      服务领域:

      晶体管光耦测试仪--便携式

          应用场景:

         ?选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)

         ?检验筛选(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)

         产品特点:

         ?大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单

         ?大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.

         ?全部可编程的DUT恒流源和电压源.

         ?内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.

         ?高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V

         ?重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题;

         ?软件自校准功能;

         ?自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试;

         ?DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型,显示测试结果是否合格,并有声光提示;

         ?两种工作模式:手动、自动测试模式。

           BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系

      型号类型

      P1

       T1

      P2

       T2

      P3

      T3

      P4

      T4

      光藕PC817

      A

      A测试端

      K

      K测试端

      E

      E测试端

      C

      C测试端

                                                      


      BW-3010B测试技术指标:

        1、光电传感器指标:

      输入正向压降(VF)

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-2V

      2mV

      <1%+2RD

      0-1000MA




      反向电流(Ir)

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-200UA

      0.2UA

      <2%+2RD

      VR:0-20V




      集电极电流(Ic)

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-40mA

      0.2MA

      <1%+2RD

      VCE:0-20V IF:0-40MA




      输出导通压降(VCE(sat))

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-2.000V

      2mV

      1% +5RD

      IC0-40mA

      IF:0-40mA




      输出漏电流(Iceo)

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-2.000mA

      2UA

      <2%+2RD

      VR:0-20V




      2、光电耦合器:

      耐压(VCEO)测试指标

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-1400V

      1V

      <2%+2RD

      0-2mA




      输入正向压降(VF)

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-2V

      2mV

      <1%+2RD

      0-1000MA




      反向漏电流(ICEO)

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-2000uA

      1UA

      <5% +5RD

      BVCE=25V




      反向漏电流(IR)

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-2000uA

      1UA

      <5% +5RD

      VR=0-20V




      电流传输比(CTR)

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-9999

      1%

      1% +5RD

      BVCE0-20V

      IF:0-100MA




      输出导通压降(VCE(sat))

      测试范围

      分辨率

      精度

      测试条件

      0-2.000V

      2mV

      1% +5RD

      IC0-1.000A

      IF:0-1.000A




      可分档位总数:10档

             BW-3010B测试定义与规范:

      AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.

      VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.

      Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.

      Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.

      CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。

      CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。

      Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。

      Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。




         

    0571-87774297